การตรวจสอบและบรรจุภัณฑ์ของไดโอดเชื่อม ZW SERIES
วิธีทดสอบและกฎการตรวจสอบ
1. การตรวจสอบแบบกลุ่ม (Batch by Batch) (การตรวจสอบกลุ่ม A)
ผลิตภัณฑ์แต่ละชุดควรได้รับการตรวจสอบตามตารางที่ 1 และรายการทั้งหมดในตารางที่ 1 จะไม่ทำลาย
ตารางที่ 1 การตรวจสอบต่อชุด
| กลุ่ม | การตรวจสอบรายการ | วิธีการตรวจสอบ | เกณฑ์ | AQL (Ⅱ) |
| A1 | รูปร่าง | การตรวจสอบด้วยสายตา (ภายใต้สภาพแสงและการมองเห็นปกติ) | โลโก้ชัดเจน ผิวเคลือบและการชุบไม่หลุดลอกและเสียหาย | 1.5 |
| เอทูเอ | ลักษณะไฟฟ้า | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) ใน JB/T 7624—1994 | ขั้วกลับ:VFM>10USL Iร.ฟ.ท>100USL | 0.65 |
| เอทูบี | VFM | 4.1(25℃) ใน JB/T 7624—1994 | ร้องเรียนความต้องการ | 1.0 |
| Iร.ฟ.ท | 4.4.3 (25℃,170℃) ใน JB/T 7624—1994 | ร้องเรียนความต้องการ | ||
| หมายเหตุ: USL คือค่าขีดจำกัดสูงสุด | ||||
2. การตรวจสอบเป็นระยะ (การตรวจสอบกลุ่ม B และกลุ่ม C)
ตามตารางที่ 2 ผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายในการผลิตปกติควรได้รับการตรวจสอบกลุ่ม B และกลุ่ม C อย่างน้อยหนึ่งชุดทุกปี และรายการตรวจสอบที่มีเครื่องหมาย (D) เป็นการทดสอบแบบทำลายหากการตรวจสอบเบื้องต้นไม่เป็นไปตามเงื่อนไข สามารถสุ่มตัวอย่างเพิ่มเติมเพื่อตรวจสอบซ้ำได้ตามภาคผนวกตารางที่ ก.2 แต่ทำได้เพียงครั้งเดียว
ตารางที่ 2 การตรวจสอบเป็นระยะ (กลุ่ม B)
| กลุ่ม | การตรวจสอบรายการ | วิธีการตรวจสอบ | เกณฑ์ | แผนการสุ่มตัวอย่าง | |
| n | Ac | ||||
| B5 | อุณหภูมิหมุนเวียน (D) ตามด้วยการซีล |
| การวัดหลังการทดสอบ：VFM≤1.1USL Iร.ฟ.ท≤2USL ไม่รั่วซึม | 6 | 1 |
| CRRL | ให้แอตทริบิวต์ที่เกี่ยวข้องของแต่ละกลุ่มโดยสังเขป VFM และฉันร.ฟ.ทค่าก่อนและหลังการทดสอบและสรุปผลการทดสอบ | ||||
3. การตรวจสอบเอกลักษณ์ (การตรวจสอบกลุ่ม D)
เมื่อผลิตภัณฑ์ได้รับการสรุปและเข้าสู่การประเมินการผลิตแล้ว นอกจากการตรวจสอบกลุ่ม A, B, C แล้ว การทดสอบกลุ่ม D ควรทำตามตารางที่ 3 และรายการตรวจสอบที่มีเครื่องหมาย (D) เป็นการทดสอบแบบทำลายล้างการผลิตตามปกติของผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายจะต้องได้รับการทดสอบกลุ่ม D อย่างน้อยหนึ่งชุดทุกๆ สามปี
หากการตรวจสอบเบื้องต้นล้มเหลว สามารถตรวจสอบตัวอย่างเพิ่มเติมอีกครั้งได้ตามภาคผนวก ตารางที่ ก.2 แต่เพียงครั้งเดียว
ตารางที่ 3 การทดสอบเอกลักษณ์
| No | กลุ่ม | การตรวจสอบรายการ | วิธีการตรวจสอบ | เกณฑ์ | แผนการสุ่มตัวอย่าง | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | การทดสอบโหลดวงจรความร้อน | รอบเวลา: 5,000 | การวัดหลังการทดสอบ:VFM≤1.1USL Iร.ฟ.ท≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | แรงกระแทกหรือการสั่นสะเทือน | 100g: ถือ 6ms รูปคลื่นครึ่งไซน์ สองทิศทางของแกนตั้งฉากกัน 3 แกน 3 ครั้งในแต่ละทิศทาง รวม 18 ครั้ง20g: 100~2000Hz，2 ชม. ของแต่ละทิศทาง รวม 6 ชม. | การวัดหลังการทดสอบ: VFM≤1.1USL Iร.ฟ.ท≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | ให้ข้อมูลแอตทริบิวต์ที่เกี่ยวข้องของแต่ละกลุ่มโดยสังเขป VFM , Iร.ฟ.ทและฉันดีอาร์เอ็มค่าก่อนและหลังการทดสอบและสรุปผลการทดสอบ | |||||
การทำเครื่องหมายและบรรจุภัณฑ์
1. มาร์ค
1.1 เครื่องหมายบนผลิตภัณฑ์ประกอบด้วย
1.1.1 หมายเลขผลิตภัณฑ์
1.1.2 เครื่องหมายระบุขั้ว
1.1.3 ชื่อบริษัทหรือเครื่องหมายการค้า
1.1.4 รหัสประจำกองตรวจ
1.2 โลโก้บนกล่องหรือคำแนะนำที่แนบมา
1.2.1 รุ่นผลิตภัณฑ์และหมายเลขมาตรฐาน
1.2.2 ชื่อบริษัทและโลโก้
1.2.3 ป้ายกันความชื้นและกันฝน
1.3 แพ็คเกจ
ข้อกำหนดด้านบรรจุภัณฑ์ของผลิตภัณฑ์ควรเป็นไปตามข้อบังคับภายในประเทศหรือข้อกำหนดของลูกค้า
1.4 เอกสารผลิตภัณฑ์
ควรระบุรุ่นผลิตภัณฑ์ หมายเลขมาตรฐานการใช้งาน ข้อกำหนดด้านประสิทธิภาพไฟฟ้าพิเศษ ลักษณะที่ปรากฏ ฯลฯ ในเอกสาร
เดอะไดโอดเชื่อมผลิตโดย Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor ถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในเครื่องเชื่อมความต้านทาน เครื่องเชื่อมความถี่ปานกลางและสูงถึง 2000Hz หรือสูงกว่าไดโอดเชื่อมจาก Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor เป็นหนึ่งในอุปกรณ์ที่เชื่อถือได้มากที่สุดของจีน ด้วยแรงดันไฟไปข้างหน้าต่ำเป็นพิเศษ ความต้านทานความร้อนต่ำเป็นพิเศษ เทคโนโลยีการผลิตที่ทันสมัย ความสามารถในการทดแทนที่ยอดเยี่ยมและประสิทธิภาพที่เสถียรสำหรับผู้ใช้ทั่วโลก ผลิตภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์