การตรวจสอบและบรรจุภัณฑ์ของไดโอดเชื่อม ZW SERIES

คำอธิบายสั้น:

มาตรฐานการตรวจสอบและบรรจุหีบห่อนี้ใช้กับไดโอดเชื่อมด้วยกระแสไฟเฉลี่ยไปข้างหน้าที่ 7100A ~ 18000A


รายละเอียดผลิตภัณฑ์

แท็กสินค้า

วิธีทดสอบและกฎการตรวจสอบ

1. การตรวจสอบแบบกลุ่ม (Batch by Batch) (การตรวจสอบกลุ่ม A)

ผลิตภัณฑ์แต่ละชุดควรได้รับการตรวจสอบตามตารางที่ 1 และรายการทั้งหมดในตารางที่ 1 จะไม่ทำลาย

ตารางที่ 1 การตรวจสอบต่อชุด

กลุ่ม การตรวจสอบรายการ

วิธีการตรวจสอบ

เกณฑ์

AQL (Ⅱ)

A1

รูปร่าง การตรวจสอบด้วยสายตา (ภายใต้สภาพแสงและการมองเห็นปกติ) โลโก้ชัดเจน ผิวเคลือบและการชุบไม่หลุดลอกและเสียหาย

1.5

เอทูเอ

ลักษณะไฟฟ้า 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) ใน JB/T 7624—1994 ขั้วกลับ:VFM>10USL

Iร.ฟ.ท>100USL

0.65

เอทูบี

VFM 4.1(25℃) ใน JB/T 7624—1994 ร้องเรียนความต้องการ

1.0

Iร.ฟ.ท 4.4.3 (25℃,170℃) ใน JB/T 7624—1994 ร้องเรียนความต้องการ
หมายเหตุ: USL คือค่าขีดจำกัดสูงสุด

2. การตรวจสอบเป็นระยะ (การตรวจสอบกลุ่ม B และกลุ่ม C)

ตามตารางที่ 2 ผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายในการผลิตปกติควรได้รับการตรวจสอบกลุ่ม B และกลุ่ม C อย่างน้อยหนึ่งชุดทุกปี และรายการตรวจสอบที่มีเครื่องหมาย (D) เป็นการทดสอบแบบทำลายหากการตรวจสอบเบื้องต้นไม่เป็นไปตามเงื่อนไข สามารถสุ่มตัวอย่างเพิ่มเติมเพื่อตรวจสอบซ้ำได้ตามภาคผนวกตารางที่ ก.2 แต่ทำได้เพียงครั้งเดียว

ตารางที่ 2 การตรวจสอบเป็นระยะ (กลุ่ม B)

กลุ่ม การตรวจสอบรายการ

วิธีการตรวจสอบ

เกณฑ์

แผนการสุ่มตัวอย่าง
n Ac
B5 อุณหภูมิหมุนเวียน (D) ตามด้วยการซีล
  1. วิธีการแบบสองกล่อง,-40℃,170℃ หมุนเวียน 5 ครั้ง เปิดรับอุณหภูมิสูงและต่ำเป็นเวลา 1 ชั่วโมงในแต่ละรอบ เวลาในการถ่ายโอน (3-4) นาที
  2. วิธีการตรวจสอบการรั่วไหลของน้ำมันฟลูออรีนที่มีแรงดัน
การวัดหลังการทดสอบ:VFM≤1.1USL

Iร.ฟ.ท≤2USL

ไม่รั่วซึม

6 1
CRRL   ให้แอตทริบิวต์ที่เกี่ยวข้องของแต่ละกลุ่มโดยสังเขป VFM และฉันร.ฟ.ทค่าก่อนและหลังการทดสอบและสรุปผลการทดสอบ

3. การตรวจสอบเอกลักษณ์ (การตรวจสอบกลุ่ม D)

เมื่อผลิตภัณฑ์ได้รับการสรุปและเข้าสู่การประเมินการผลิตแล้ว นอกจากการตรวจสอบกลุ่ม A, B, C แล้ว การทดสอบกลุ่ม D ควรทำตามตารางที่ 3 และรายการตรวจสอบที่มีเครื่องหมาย (D) เป็นการทดสอบแบบทำลายล้างการผลิตตามปกติของผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายจะต้องได้รับการทดสอบกลุ่ม D อย่างน้อยหนึ่งชุดทุกๆ สามปี

หากการตรวจสอบเบื้องต้นล้มเหลว สามารถตรวจสอบตัวอย่างเพิ่มเติมอีกครั้งได้ตามภาคผนวก ตารางที่ ก.2 แต่เพียงครั้งเดียว

ตารางที่ 3 การทดสอบเอกลักษณ์

No

กลุ่ม การตรวจสอบรายการ

วิธีการตรวจสอบ

เกณฑ์

แผนการสุ่มตัวอย่าง
n Ac

1

D2 การทดสอบโหลดวงจรความร้อน รอบเวลา: 5,000 การวัดหลังการทดสอบ:VFM≤1.1USL

Iร.ฟ.ท≤2USL

6

1

2

D3 แรงกระแทกหรือการสั่นสะเทือน 100g: ถือ 6ms รูปคลื่นครึ่งไซน์ สองทิศทางของแกนตั้งฉากกัน 3 แกน 3 ครั้งในแต่ละทิศทาง รวม 18 ครั้ง20g: 100~2000Hz,2 ชม. ของแต่ละทิศทาง รวม 6 ชม.

การวัดหลังการทดสอบ: VFM≤1.1USL

Iร.ฟ.ท≤2USL

6

1

CRRL

  ให้ข้อมูลแอตทริบิวต์ที่เกี่ยวข้องของแต่ละกลุ่มโดยสังเขป VFM , Iร.ฟ.ทและฉันดีอาร์เอ็มค่าก่อนและหลังการทดสอบและสรุปผลการทดสอบ

 

การทำเครื่องหมายและบรรจุภัณฑ์

1. มาร์ค

1.1 เครื่องหมายบนผลิตภัณฑ์ประกอบด้วย

1.1.1 หมายเลขผลิตภัณฑ์

1.1.2 เครื่องหมายระบุขั้ว

1.1.3 ชื่อบริษัทหรือเครื่องหมายการค้า

1.1.4 รหัสประจำกองตรวจ

1.2 โลโก้บนกล่องหรือคำแนะนำที่แนบมา

1.2.1 รุ่นผลิตภัณฑ์และหมายเลขมาตรฐาน

1.2.2 ชื่อบริษัทและโลโก้

1.2.3 ป้ายกันความชื้นและกันฝน

1.3 แพ็คเกจ

ข้อกำหนดด้านบรรจุภัณฑ์ของผลิตภัณฑ์ควรเป็นไปตามข้อบังคับภายในประเทศหรือข้อกำหนดของลูกค้า

1.4 เอกสารผลิตภัณฑ์

ควรระบุรุ่นผลิตภัณฑ์ หมายเลขมาตรฐานการใช้งาน ข้อกำหนดด้านประสิทธิภาพไฟฟ้าพิเศษ ลักษณะที่ปรากฏ ฯลฯ ในเอกสาร

เดอะไดโอดเชื่อมผลิตโดย Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor ถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในเครื่องเชื่อมความต้านทาน เครื่องเชื่อมความถี่ปานกลางและสูงถึง 2000Hz หรือสูงกว่าไดโอดเชื่อมจาก Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor เป็นหนึ่งในอุปกรณ์ที่เชื่อถือได้มากที่สุดของจีน ด้วยแรงดันไฟไปข้างหน้าต่ำเป็นพิเศษ ความต้านทานความร้อนต่ำเป็นพิเศษ เทคโนโลยีการผลิตที่ทันสมัย ​​ความสามารถในการทดแทนที่ยอดเยี่ยมและประสิทธิภาพที่เสถียรสำหรับผู้ใช้ทั่วโลก ผลิตภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์


  • ก่อนหน้า:
  • ต่อไป:

  • เขียนข้อความของคุณที่นี่และส่งถึงเรา